微觀電子工藝不斷發展，對電子材料與零部件產品的可靠性提出了新的要求，如何提升產品的可靠性成為企業極度關注的焦點。產品失效是發生在產品壽命周期的各個階段，對裝備或元器件在使用過程中發生的各種形式失效現象的特征及規律進行分析研究，有利于提高產品質量，在技術開發、改進，產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

 

美信檢測自2015年以來，每年均舉辦一場大型的電子制造相關的技術研討會，場場盛況，與會嘉賓代表300+！本次12月28日的年終盛會，核心議題圍繞電子組裝、電子元器件的失效分析，先進材料的表征方法，器件質量評估，UL認證的全面解析和顯微分析等共7個方面的課題內容展開。美信檢測將與企業一起共探行業發展前景！為企業的創新研發指明方向！

 

組織機構

主辦單位：

支持單位：

 

大會議程

♦ 9：00—9：50   切片技術在電子產品質量評價中的應用

 

課題大綱：

1.微電子的高精細切片制作流程講解

2.印制線路板的檢驗及案例分享

3.電子組件的檢驗及案例分享

4.LCD屏的檢驗及案例分享

 

簡介：切片技術在關鍵工序的質量控制中發揮著越來越大的作用，本次課題主要從印制線路板的檢驗、電子組件的檢驗、LCD屏的檢驗等方面展開分析，通過相關的案例講解，幫助企業深入了解切片技術在電子產品質量評價中的應用。

 

♦9：50—10：30   現貨購買物料風險評估與攔截 

課題大綱：

1.現貨物料的詮釋

2.現貨物料的風險

3.超期物料風險評估

4.器件真偽鑒定

5.真偽鑒定與DPA關系

 

簡介：現貨市場購買物料一般存在以下幾個風險問題：1、物料缺貨，原廠無法提供，只能從現貨市場購買，購買價格高；2、很多是超期物料，存放時間較長，性能可能會退化；3、如果供應商存放環境管控不好，會存在嚴重受潮，焊點腐蝕情況，影響后期的焊接加工質量；4、存在假貨的風險。如何對這些風險進行規避？如何選購到符合質量要求的器件產品？這些我們都將進行深入解析。

 

♦10：30—10：50       茶歇

 

♦10：50—11：30   顯微分析在電子行業的最新應用介紹 

 

課題大綱：

1.電鏡的原理介紹；

2.電鏡在電子相關領域最新技術介紹；

3.常用的應用領域介紹及展望

 

簡介：介紹了電子顯微的原理和電鏡的結構及特點，從電子行業及相關領域的應用方向為出發點，講解了從外觀形貌到內部結構解析，以及元素分析的最新應用，對產品的失效分析提供了較全面的解決方案，最后對顯微分析的未來發展進行了展望。

 

♦13：30—14：10   基于失效物理的可靠性提升

課題大綱：

1.傳統可靠性技術體系概述及存在問題

2.基于失效物理的可靠性技術體系概述、意義及思路

3.失效物理在電子組裝質量優化中的作用及應對對策

4.相關典型案例的分享與解析

 

簡介：失效物理（failure physics）研究產品在各種應力下發生失效的內在原因及其機理的科學，又稱可靠性物理。相較于傳統可靠性技術而言，對失效物理可靠性技術相關體系、思路和方法進行闡釋，并通過典型的案例熟悉該可靠性技術的實際應用，有利于更好的針對產品失效問題進行分析，獲得根本原因并解決。

 

♦14：10—14：50   FPC常見電子元器件典型失效研討

課題大綱：

1.失效分析的作用

2.MLCC貼片電容的典型失效

3.貼片電阻的典型失效

4.WLCSP芯片的典型失效

5.模組的典型失效

 

簡介：對FPC常見電子元器件的失效進行了分別的介紹和分析，如：MLCC貼片電容、貼片電阻、WLCSP芯片、模組等，而后對半導體器件（分立器件 、IC）的失效機理進行了講解，并針對性的精選典型案例，進行分享和剖析。

 

♦14：50—15：10       茶歇

 

♦15：10—15：50   先進材料表征技術——表面成分分析方法XPS, AES, TOF-SIMS的技術能力和特點以及在材料表征中的應用

 

課題大綱：

1.X射線光電子能譜儀（XPS）的基本原理和主要應用

2.俄歇電子能譜儀(AES)的基本原理和主要應用

3.飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)的基本原理和主要應用

 

簡介：針對先進材料表征技術方法中的表面成分分析技術進行了全面介紹，從X射線光電子能譜儀（XPS）、俄歇電子能譜儀(AES)、飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)的基本原理和實際應用進行講解，并列舉案例深度分析，更為清晰的了解該技術。

 

♦15：50—16：30   UL認證意義與相關知識解析

特邀UL技術工程師，針對相關的認證服務進行全面解析，并對UL認證的意義與價值進行分享。

 

講師介紹

劉強 美信檢測技術專家	崔風 洲失效分析 技術專家 美信咨詢副總經理	劉勤 文天美(中國)科學儀器技術 專家/博士

王君兆 失效分析 技術專家 美信咨詢總經理	魯德鳳 PHI-China分析技術資深顧問	特邀嘉賓 UL

 

會議詳情

時間：2018年12月28日  9：00-17：00

      早上8點開始簽到

地點：寶安恒豐海悅酒店  V1廳

     （深圳市寶安區寶民一路115號）

 

免費報名方式

掃描下方二維碼添加好友報名或點擊“參會”直接在線報名，即可免費參會！

 

注：

1.由于場地原因，本次會議的午餐、住宿自行安排，費用自理。

2.酒店訂房可聯系酒店負責人（電話：13760196511），訂房有會期的協議優惠價格，報“美信檢測”名稱即可。

 

最后，想說一點心里話

美信檢測到今年已經6歲啦，這一路上的成長離不開所有人的陪伴、鞭策和鼓勵。很感謝有各種各樣的聲音在時刻圍繞著我們，澆灌我們成長！

我們知道，因為在乎，才有了這些言語。

讓我們，

在迷茫、沮喪時，不至于喪失信心；

在喜悅、驕傲時，仍不忘謙以律己。

今天，其實也想聽你們說說心里話。近年來，美信檢測做培訓會議已經很多場了，一路的摸索和探尋，這其中的進步和提升，最大的動力都是源于你們的評價！

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對往屆會議的評價或本屆會議想說的（課題、案例、講師、服務……）

留言獲贊滿15個的朋友，我們有一個簡單的小回饋、小心意——“一支筆的質量之旅”小米簽字筆，希望大家不吝賜教呀?。〞h當天簽到處領取哦~）

 

會務聯系

劉久銘：13392891259（同微信）    陳嵐清：16675534219（同微信）

郵箱地址：liujiuming@mttlab.com 郵箱地址：chenlanqing@mttlab.com

 

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